TMS-1400

  TopMap Micro.View?是一種使用方便、結構緊湊的光 學分析器。結合卓越的性能和價格與這個強大的計量解 決方案。擴展100毫米的z-測量范圍與CST連續掃描技術允許以納米分辨率測量復雜的地形。這個傳統的桌面設置功能集成電子，與智能對焦功能簡化和加快測量程序。占地面積小，具有擴展功能。受益于可選的ECT環境比較技術，即使在嘈雜和具有挑戰性的生產環境中，也能確?？煽亢蜏蚀_的測量結果。Micro.View? 是用于檢測制造和研究領域的精密工程表面的成本計量質量控制儀器。

測量應用

      TopMap白光干涉儀測量優點：       

                            1.不具有接觸性、無破壞性和可重復性

                            2.自幾乎任何表面的三維真實信息 

                            3.精度、可靠性高，易于自動化 良好的橫向分辨率

                            4.良好的橫向分辨率

                            5.先進的垂直分辨率獨立于物鏡放大倍數

                     TMS-1400 TopMap Micro.View+ 符合光學表面測量設備的IOS標準，設備規格如下：

表面和精密工程的高性價比質量控制，檢測粗糙度，微觀結構和更多的表面細節